HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓電源電鍍開(kāi)關(guān)電源生產(chǎn)廠(chǎng)家

一、產(chǎn)品特點(diǎn) 

1、采用超大TFT真彩大液晶觸摸屏人機(jī)界面，方便直接編程操作。

2、本機(jī)一次可執(zhí)行不同電壓、電流、延遲時(shí)間、運(yùn)行時(shí)間的設(shè)定，并可連續(xù)循環(huán)999999次。

3、輸出電壓可以從零伏起調(diào)；輸出電流可以從零預(yù)置;

4、具有10組記憶組,可以將以前使用過(guò)的參數(shù)存儲(chǔ),以便下次使用時(shí)輕松調(diào)用。

5、 具有RS232、RS485通訊接口。國(guó)內(nèi)車(chē)禍7%以上在于新手未經(jīng)有效技能培訓(xùn)及理論學(xué)習(xí)，智能化駕考則從源頭上消除人為因素對(duì)考試結(jié)果的影響，保證考試公平、公正及可追溯性，進(jìn)而減少交通事故。今天就了解一下智能駕考終端是怎樣設(shè)計(jì)的。隨著國(guó)內(nèi)汽車(chē)保有量不斷攀升，更嚴(yán)格的駕照考試新規(guī)正在醞釀（科目五，雖然當(dāng)前只是傳言）。據(jù)統(tǒng)計(jì)，國(guó)內(nèi)車(chē)禍7%以上在于新手未經(jīng)有效技能培訓(xùn)及理論學(xué)習(xí)，駕考嚴(yán)格化也在情理之中。駕考嚴(yán)格化的有效實(shí)施大致在21年前后，智能化駕考推廣普及。

6、恒定電壓、恒定電流之使用, 可自動(dòng)交叉變換，維持控制與保護(hù)兼顧

7、高頻PWM硬件調(diào)整控制技術(shù)，反應(yīng)速度快，輸出穩(wěn)定

8、IGBT全橋變換技術(shù)，運(yùn)行可靠，過(guò)載能力強(qiáng)；

9、采用高頻變換技術(shù)，整機(jī)效率≥85%；

10、具有輸出穩(wěn)壓、限流、短路保護(hù)和功率器件過(guò)熱保護(hù)功能；

11、優(yōu)良的輸出穩(wěn)定性能：源電壓效應(yīng)＜0.5%，負(fù)載效應(yīng)＜1%；

12、輸出直流電壓畸變系數(shù)低，干擾??；

13、在短路和過(guò)載故障時(shí)，可調(diào)節(jié)限流電位器來(lái)限制輸出電流值，從額定值的50%至105%之間變化；ES31E接地電阻土壤電阻率測(cè)試儀（簡(jiǎn)易型）可以使用4線(xiàn)法測(cè)量接地電阻、土壤電阻率、接地電壓測(cè)量等功能。接地電阻量程可達(dá)：.Ω～3.KΩ，土壤電阻率量程可達(dá)：.ΩM～9999KΩM，電壓量程：～6V，每棟房屋，每臺(tái)設(shè)備在安裝完后，都需要檢測(cè)是否合格，其它一個(gè)參考標(biāo)準(zhǔn)就是接地電阻值，下個(gè)我們用精密四線(xiàn)法測(cè)量其接地電阻值。如上圖所示：ES31E標(biāo)準(zhǔn)配件有：儀表1臺(tái),儀表箱1個(gè),輔助接地棒4根,測(cè)試線(xiàn)4條,簡(jiǎn)易測(cè)試線(xiàn)2條,1.5V電池6節(jié)，用戶(hù)手冊(cè)保用證1份。

14、適用于阻性、感性等負(fù)載；負(fù)載適應(yīng)性強(qiáng)；

二、主要用途及適用范圍 

1、電解電容器老練，鉭電容器賦能

2、電阻器、繼電器，馬達(dá)等電子元件老練，例行試驗(yàn)

3、實(shí)驗(yàn)室，電子設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備

4、電子檢驗(yàn)設(shè)備、生產(chǎn)線(xiàn)設(shè)備、通訊設(shè)備

5、其它一切需要使用直流電源的場(chǎng)合

6、應(yīng)用于飛機(jī)及機(jī)載設(shè)備、雷達(dá)、導(dǎo)航等電子設(shè)備的制造、檢測(cè)、維修等。

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠(chǎng)出貨到封測(cè)廠(chǎng)的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。交流輸入 15KW以下（單相110V±10%、220V±10%、或者三相380V±15%）

15KW以上（三相380V±15%）

頻率：50HZ、60HZ、400HZ任選

直流輸出 電壓（穩(wěn)壓值CC）：0- 6000V連續(xù)可調(diào)  

電流（恒流值CV）：0- 100000A連續(xù)可調(diào)   

源電壓效應(yīng) ≤0.2%有效值

負(fù)載效應(yīng) 穩(wěn)壓精度：≤0.5%有效值（阻性負(fù)載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負(fù)載）

輸出紋波 穩(wěn)壓狀態(tài)（CC）：≤0.3%+10mV（rms）（有效值）

穩(wěn)流狀態(tài)（CV）：≤0.5%+10mA（rms）（有效值）

輸出顯示 4位半數(shù)字表     精度 ：±1% +1個(gè)字

顯示格式  00.00V-19.99V；000.0V-199.9V；0000V-1999V；

電壓電流設(shè)定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過(guò)壓保護(hù) 內(nèi)置O.V.P保護(hù)，保護(hù)值為額定值+5%，保護(hù)后關(guān)閉輸出，重新開(kāi)機(jī)解鎖

過(guò)流保護(hù) 過(guò)載、短路、定電流輸出傳統(tǒng)上，示波器的頻率響應(yīng)是高斯型的，從它的BNC輸入端至CRT顯示，有很多模擬放大器構(gòu)成一個(gè)放大器鏈。但當(dāng)代高性能數(shù)字示波器普遍采用平坦頻率響應(yīng)。數(shù)字示波器中和高斯頻響有關(guān)的只是很少的幾個(gè)模擬放大器，并可用DSP技術(shù)優(yōu)化其對(duì)精度的影響。對(duì)于數(shù)字示波器來(lái)說(shuō)，要盡量避免采樣混疊誤差，而模擬示波器不存在這種問(wèn)題。與高斯頻響相比，平坦型頻率響應(yīng)能減少采樣混疊誤差。本文回顧高斯響應(yīng)和平坦響應(yīng)的特性，然后討論這兩種響應(yīng)類(lèi)型所對(duì)應(yīng)的上升時(shí)間測(cè)量精度，從而說(shuō)明具有平坦頻率響應(yīng)的示波器與具有同樣帶寬的高斯響應(yīng)示波器相比，有更高的上升時(shí)間測(cè)量精度。電鍍開(kāi)關(guān)電源生產(chǎn)廠(chǎng)家使用低通濾波器(如RC濾波器)，或者使用共模扼流圈來(lái)過(guò)濾輸入信號(hào)，可以減少共模噪聲。重要的是，不對(duì)稱(chēng)衰減的共模噪聲會(huì)產(chǎn)生差模噪聲。在實(shí)際應(yīng)用中，不對(duì)稱(chēng)衰減的一個(gè)例子是低通濾波器;用一個(gè)電阻和電容實(shí)現(xiàn)截止頻率，但受元件容差影響，兩條線(xiàn)路中的截止頻率不一樣。第二種，也是麻煩的噪聲是差模噪聲，這種噪聲是在激勵(lì)與系統(tǒng)GND之間耦合的。該噪聲之所以會(huì)耦合到信號(hào)中，是因?yàn)橄到y(tǒng)GND與充當(dāng)天線(xiàn)的信號(hào)電纜之間存在電流環(huán)路。